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News
97/09/03
NDL和Agilent合作開設之IC-CAP基礎課程97年第三季的開設時間為9/18-9/19,此上機課程有25人之報名上限,有興趣者請儘速報名,詳情請見網站
http://www.ndl.org.tw/ndl2006/service/training/ic_cap_user_training.html。
97/08/21
因脈衝式射頻量測系統異常,即日起暫停脈衝式射頻量測系統之量測申請,已申請者請耐心等候,不便之處,敬請見諒。(將另期公告開放日期。)
97/08/08
原訂於8/14~8/15開設之第三季IC-CAP User Training課程因故延期,開課日期將另行公告,不便之處敬請見諒。
97/08/01
即日起高頻相關委託測試服務請至
NDL對外服務系統(http://140.110.216.1 7:2006)
申請, 惟在NDL對外服務系統之『設備預約使用』、『設備狀況查詢』等進階功能尚為完備前,本網站中各位常使用之以下重要佈告功能將以人工維護方式繼續服務大家, 無法自動即時更新資料之處,還請各位見諒。
○Service 頁面中的"已申請量測案件列表(僅列出尚未排定者)"相關功能。
○Service 頁面中的 "已排定量測案件列表(檢視量測排定時間)"相關功能。
○Schedule 頁面相關功能。
97/07/21
本中心線上申請委託測試服務系統自民國90年服務至今,感謝大家的支持,我們將於8月1日停止服務,回歸
NDL對外服務系統(http://140.110.216.17:2006)
之線上申請作業。NDL為提供各位更及時的資訊及有效率的服務,自今年度起將『設備委託操作申請』、『設備狀況查詢』、『設備預約使用』、『設備WEB控制』、『自行操作考核申請』等功能逐步網路化,希望加強線上申請/及時查閱/雙向溝通等功能,透過NDL會員制度之落實,建立NDL資源共享平台。未來各研究群若需使用NDL相關資源,必須師/生皆成為NDL會員,雖然各位可能對首次登入NDL會員系統所需填寫資料較為繁雜感到困惑,但請支持我們想提供各位更好服務的決心,不便之處尚請見諒。
97/07/01
○為提高各研究群申請委託測試服務的便利性,即日起,委託本中心測試高頻電路僅需申請 RFIC參數量測系統即可,本中心將視量測計劃書之內容自行協調其他量測系統之使用。
○暑假積體電路製程技術系列課程之『HF01高頻量測技術與見習』及『HF02無線射頻收發器設計與測試 』將分別於2008年7月28日~29日及7月31日~8月1日開課,各招收100人,一律採網路報名,額滿提前截止,詳情請見網址
http://www.ndl.org.tw/ndl2006/service/training/2008_ic_class_summer.html
○本中心新購之100um pitch PGP 3-pin直流排針及100um pitch PGPPGPPGP 9-pin兩種直流排針已到貨,連同原提供服務之100um pitch PGPPGP 6-pin直流排針,即日起各研究群可視RFIC之實際量測需求於高頻電路測試之自行操作及委託服務時搭配使用這三種直流排針,以增加各位在RFIC設計實務上的便利性。
97/05/23
為增加各研究群在RFIC設計實務上的便利性,自97年8月1日起,除原提供服務之100um pitch PGPPGP 6-pin直流排針外,本中心將新增兩種直流排針於高頻電路測試之自行操作及委託服務,分別是100um pitch PGP 3-pin直流排針及100um pitch PGPPGPPGP 9-pin直流排針,各研究群可於電路佈局時加入考量。
97/04/11
自即日起,委託量測申請書之計畫名稱,如勾選『國科會』計畫,除了要填寫國科會計畫名稱/編號之外,亦需填寫『貴儀卡』卡號(因應ISO相關規定要求,未填寫者視同委託量測申請書填寫不完整,將無法進行『實驗室編號』)。如果沒有貴儀卡卡號,可打至NDL簡小姐(03-5726100-7610)處詢問相關申請細節。
97/03/28
NDL和Agilent合作開設之IC-CAP基礎課程97年第二季的開設時間為5/28-5/29,此上機課程有25人之報名上限,有興趣者請儘速報名,詳情請見網站
http://www.ndl.org.tw/ndl2006/service/training/ic_cap_user_training.html。
97/02/01
NDL和Agilent合作開設之IC-CAP基礎課程97年第一季的開設時間為2/19-2/20,此上機課程有25人之報名上限,有興趣者請儘速報名,詳情請見網站
http://www.ndl.org.tw/ndl2006/service/training/ic_cap_user_training.html。
97/01/01
自97年1月1日起,本中心高頻相關量測系統僅接受佈局為100um pitch 高頻探針及PGPPGP直流排針之元件/電路相關委託測試或自行操作,請各位在元件/電路佈局上特別注意,申請委託測試亦請使用更新後之Test Plan Example。
96/12/25
寒假積體電路製程技術系列課程之『HF01高頻量測技術與見習』將於2008年2月13日~14日開課,共計二日,100人。 報名日期與方式:2007年12月25日早上九點起至2008年1月4日止,一律採網路報名,額滿提前截止,詳情請見
附檔
或網址
http://www.ndl.org.tw/ndl2006/service/training/2008_ic_class_winter
.html。
欲使用高頻相關設備的學生必須依序完成以下程序:
1.完成寒/暑假積體電路製程技術系列課程之『HF01高頻量測技術與見習』且獲得證書。
2.依學界儀器訓練
申請流程
完成以下各項步驟:
a.使用者申請資格審核
b.公安訓練報名/上課/考試
c.欲使用之單項設備考核,通過即可發卡。
目前可開放各研究團隊的碩博士生自行操作之設備如下:
奈米元件參數量測系統 -------------------------B-2*
50 GHz元件高頻 S 參數量測系統 -----------B-2
高頻雜訊參數量測系統 -------------------------B-3**
高頻功率參數量測系統 -------------------------B-2
RFIC 參數量測系統 ------------------------------B-2
元件低頻雜訊參數量測系統 -------------------B-2
* B-2 : 原則上同一實驗室具自行操作資格之碩士班學生不得超過二人、博士班學生不限 。
** B-3 : 自行操作限博士班學生。
96/12/17
本實驗室儀器送校已完成,即日起重新開放量測申請。
96/11/23
本實驗室儀器須配合ISO作業進行校驗,量測服務處理進度將受影響,不便之處,敬請見諒。各機台暫停量測服務時間如下:
○
11/23-12/4
元件低頻雜訊參數量測系統
○
11/23-12/4
4-Port 高頻S參數量測系統
○
11/30-12/10
高頻功率參數量測系統
○
12/4-12/7
50GHz高頻S參數量測系統
○
12/4-12/7
110GHz高頻S參數量測系統
○
12/6-12/17
高頻雜訊參數量測系統
各機台校驗若在預定日前完成,將另行通知。
96/11/07
11/9(五)~11/12(一)配合NDL年度歲修,本中心暫停開放。
96/11/07
110 GHz 元件高頻S參數量測系統已恢復正常,即日起重新開放量測申請。
96/10/24
NDL和Agilent合作開設之IC-CAP基礎課程第四季的開設時間為11/27-11/28,此上機課程有25人之報名上限,有興趣者請儘速報名,詳情請見網站
http://www.ndl.org.tw/ndl2006/service/training/ic_cap_user_training.html。
96/10/23
因110 GHz 元件高頻S參數量測系統故障送修,即日起暫停110 GHz 元件高頻S參數量測系統之量測申請,已申請者請耐心等候,不便之處,敬請見諒。(將另期公告開放日期。)
96/08/27
IC-CAP基礎課程第三季的最新開設時間為9/18-9/20。
(原訂時間為9/4-9/6,因故改期,不便之處,敬請見諒)。
96/08/24
NDL和Agilent合作開設之IC-CAP基礎課程第三季的開設時間為9/4-9/6,此上機含實習課程有25人之報名上限,有興趣者請儘速報名,詳情請見網站
http://www.ndl.org.tw/ndl2006/service/training/ic_cap_user_training.html。
96/08/24
為提供各位教授在高頻元件與電路研發相關領域更好的技術支援與服務環境,高頻技術中心自95年起即致力於提升毫米波電路之量測頻段與相關測試技術開發,在多位老師與同學的協助下,至今已經完成測試的電路及測試項目包括100GHz及80GHz Frequency Divider、 77GHz及65GHz VCO的Output Spectrum和Phase Noise,60GHz LNA的S-parameters、Noise Figure、Gain、P1dB及IIP3,60GHz Mixer的Insertion Gain/Loss、P1dB、Port-to-Port Isolation……等。在此特別感謝交通大學吳重雨校長、張翼教授、孟慶宗教授,台灣大學呂學士所長、劉深淵教授、呂良鴻教授、陳怡然教授,清華大學徐碩鴻教授各研究團隊的大力支持。
本中心預計於今年底全面開放毫米波電路之量測頻段至110GHz,屆時將正式公布可提供服務之各式測試項目,敬請期待,在此之前各研究團隊若有毫米波電路的量測需求,歡迎直接聯絡黃國威博士作進一步的討論:
(03)5726100ext.7718,gwhuang@mail.ndl.org.tw。
96/06/13
NDL和Agilent合作開設之IC-CAP基礎課程第二季最新的開設時間為6/26-6/28,此上機含實習課程有25人之報名上限,目前已有10人報名,有意者請儘速報名,詳情請見網站
http://www.ndl.org.tw/ndl2006/service/training/ic_cap_user_training.html。
96/06/13
目前可開放各研究團隊的碩博士生自行操作之設備如下:
奈米元件參數量測系統 --------------------------B-2*
50 GHz元件高頻 S 參數量測系統 --------------B-2
高頻雜訊參數量測系統 --------------------------B-3**
高頻功率參數量測系統 --------------------------B-2
RFIC 參數量測系統 ------------------------------B-2
元件低頻雜訊參數量測系統 --------------------B-2
* B-2 : 原則上同一實驗室具自行操作資格之碩士班學生不得超過二人、博士
班學生不限 。
** B-3 : 自行操作限博士班學生。
欲使用高頻相關設備的學生必須依序完成以下程序:
1.完成寒/暑假積體電路製程技術系列課程之『HF01高頻量測技術與見習』且
獲得證書。
2.依學界儀器訓練申請流程
(http://www.ndl.org.tw/cht/index.php?
option=com_content&task=view&id=339&Itemid=99)
完成以下各項步驟:
a.使用者申請資格審核
b.公安訓練報名/上課/考試
c.欲使用之單項設備考核,通過即可發卡。
其中寒假積體電路製程技術系列課程之『HF01高頻量測技術與見習』將於8月06日~07日開課,共計二日,100人。
報名日期與方式:2007年6月12日早上九點起至2007年06月22日止,一律採網路報名,額滿提前截止,詳情請見附檔或網址
http://www.ndl.org.tw/ndl2006/service/training/2007_ic_class_summer.html。
<<2007暑訓--高頻量測技術與見習.doc>>
96/03/15
為維持量測系統的穩定度並避免探針拆換造成之損耗,以持續提供高品質的量測服務,除110 GHz元件高頻 S 參數量測系統已自95年7月1日起僅提供佈局為100um pitch GSG probes之相關測試服務,
針對下列六項高頻相關量測系統 ,本中心將逐步統一以100um pitch 之高頻探針及PGPPGP直流排針為主要服務項目。
96年8月1日起,針對佈局為 150um pitch 直流排針及高頻探針之元件或電路相關委託測試或自行操作,將視系統狀況擇期集中日期量測,若因此造成研究進度延怠,不便之處請多包涵。
自97年1月1日起,將 僅接受佈局為100um pitch 高頻探針及PGPPGP直流排針之元件或電路相關委託測試或自行操作
,請各位在元件及電路佈局上特別注意。
o 50 GHz元件高頻 S 參數量測系統
o 高頻雜訊參數量測系統
o 高頻功率參數量測系統
o RFIC 參數量測系統
o 4-Port 高頻S參數量測系統
o 脈衝式射頻量測系統
96/01/30
96年第一梯IC-CAP User Training開始招生了!!
請參考相關訊息。
96/01/25
自行量測者預約系統時,請儘量預約晚上的時段,為了更有效提供委託服務,白天的時段本實驗室工程師有優先使用權,並請準時於預約時段使用機台,切勿無故遲到或缺席。
96/01/18
電性量測系統(IV、CV)已於96年1月1日轉移至營運組,即日起取消網路預約,改以紙本預約。若有任何使用上疑問,請與吳其昌(7668)聯絡。
95/12/26
因20GHz 元件高頻S參數量測系統將移至NDL南區分部,即日起停止該系統之量測服務申請;請有需求者改申請50GHz 元件高頻S參數量測系統。
95/11/24
即日起重新開放110 GHz 元件高頻S參數量測系統之量測申請。
95/11/1
目前儀器送校已陸續完成,惟受限於各機台復機進度不一,故請委託申請者電洽各儀器負責工程師詢問機台開放時間,不便之處,敬請見諒。
95/10/23
因110 GHz 元件高頻S參數量測系統故障送修,即日起暫停110 GHz 元件高頻S參數量測系統之量測申請。(將另期公告開放日期。)
95/9/19
本實驗室儀器須配合ISO作業進行校驗,量測服務處理進度將受影響,不便之處,敬請見諒。
95/7/5
因壓縮機故障待修,故即日起僅接受室溫以上的變溫量測服務。
95/5/23
為了避免因換針造成量測系統之損傷與不穩定,以提升量測服務品質,故自96年1月1日起,4-Port高頻 S 參數量測系統,將不再接受150um pitch GSG probes之元件或電路相關委託測試申請,請於佈局設計時特別注意。
95/3/21
自95年6月1日起,請 RFIC 量測申請者依據新的RFIC參數量測系統 Layout Rule 進行晶片佈局。
95/2/13
自95年3月1日起,本實驗室將對各申請案件進行審核的動作,敬請申請者使用線上所提供的新量測計劃書表格撰寫量測計劃。
95/1/3
即日起,本實驗室的傳真號碼改為(03)5733795。
95/1/3
為維護110GHz元件高頻s參數量測系統之穩定度,避免因換針造成系統之損壞,該系統未來將以100um pitch GSG probes為主要服務對象,自95年7月1日起將不再接受150um pitch GSG probes之元件或電路相關委託測試申請,請於佈局設計時特別注意。
94/8/1
因實驗室進行年度歲修,10/29-11/6暫停服務量測與學生自行量測操作。
94/8/1
即日起,本中心全面開放以下量測系統之線上量測申請〈共十項〉:
○20GHZ元件高頻S參數量測系統
○50GHZ元件高頻S參數量測系統
○高頻雜訊參數量測系統
○高頻功率參數量測系統
○RFIC參數量測系統
○元件低頻雜訊參數量測系統
○4-Port 高頻S參數量測系統
○脈衝式射頻量測系統
○110GHz元件高頻S參數量測系統
○奈米元件參數量測系統
94/7/13
即日起,本實驗室的傳真號碼改為5733687。
94/6/30
自94/7/1起開放110 GHz高頻S參數量測系統及20 GHz Pulse RF Modeling量測系統接受委託測試,目前暫以專案方式提供測試服務,110 GHz 高頻S參數量測系統細節,請洽詢黃國威博士〈03-5726100 ext. 7718,email:gwhuang@mail.ndl.org.tw〉,20 GHz Pulse RF modeling量測系統細節,請洽詢陳坤明博士〈03-5726100 ext. 7683,email:kmchen@mail.ndl.org.tw〉。
94/6/28
4-port S參數量測系統之測試頻率上限提升至50GHz,並提供電路板及晶圓級兩種測試方式。晶圓測試接受100um/150um pitch之兩支GSGSG面對面或四支GSG成直角排列的量測佈局,除此之外,仍需遵守一般之layout rules。進一步細節可洽黃國威博士〈03-5726100 ext. 7718,email:gwhuang@mail.ndl.org.tw〉。
為落實奈米電子研究大樓管理規則,所有欲進出高頻技術中心之訪客〈包括委託測試及自行操作之學生〉,皆需於二樓櫃檯登記換證後,始可進入。
94/5/25
為合理分配研究資源及提高各測試機台使用效率,即日起,每張委託測試服務申請單之量測時間以一個工作天或六十個元件為原則。〈先到者為準〉
94/1/20
為維持穩定的測試環境以提供更好的服務品質,即日起將針對進入RFTC的人數進行控管。原則上,每張委託測試服務申請單開放於量測當日進入本實驗室的人數以兩人為限〈包括委託測試服務申請者本人在內〉,惟指導教授或單位主管不在此限。
94/1/3
即日起,Flicker Noise Measurement System量測恢復正常申請。
93/12/17
由於本實驗室郵件伺服器的更新維護作業持續進行中,請申請量測服務的同學,
盡量使用傳真的方式繳交申請書與計劃書
。
傳真號碼;03-5722715。
93/12/13
即日起,本實驗室網站更改為 http://www.rftc.ndl.org.tw/ 或 http://rftc.ndl.org.tw。
93/11/26
即日起,所有欲進入本實驗室自行量測之學生(僅限已取得權限之學生),皆須報名參加安全衛生教育訓練。詳情請見
http://www.ndl.org.tw/news/news_show.asp?id=149
。
93/9/24
高頻量測實驗室所有相關測試機台,將於九月底陸續搬遷至NDL新廠。故即日起暫停所有測試機台之委託測試收件,並訂於十二月一日復機後重新開放量測申請,若有變動再另行公告之。對已完成申請之案件,將於復機後優先處理。若因搬遷作業而造成不便之處,敬請包涵。
<<公告全文...>>
93/9/13
因BTA 9812故障待修,即日起暫停元件低頻雜訊參數量測系統之量測申請。
93/7/1
有鑑於新廠搬遷日期延後,為顧及大量委託測試需求,高頻量測實驗室所有相關測試機台自即日起恢復正常收件,唯於八、九月間各儀器搬遷、校驗及復機期間,服務速度將受影響,造成不便之處,敬請包涵。
93/4/29
因NDL新廠搬遷日期延後之故,相關機台委託測試之收件截止日期將延至五月十四日下午六時。
93/3/5
暫停收件公告
高頻量測實驗室所有相關測試機台,預訂於七、八月間進行儀器搬遷至新廠。故將於五月一日凌晨零時起暫停所有測試機台之委託測試收件,並於六月底完成已收件之測試服務。開放日期將視各儀器復機狀況,再另行公告,造成不便之處,敬請包涵。
92/5/20
為防範SARS的擴散,即日起前來進行量測服務者,請自行配戴口罩。
92/5/18
實驗室傳真號碼改回5722715。
92/5/12
即日起,實驗室傳真號碼暫改為5736343,原傳真號碼5722715暫停使用。
92/4/18
即日起,變溫量測的可變溫度範圍更改為室溫∼200°C。
92/1/2
即日起,變溫量測的可變溫度範圍更改為-55°C∼200°C。
91/12/23
即日起恢復
高頻功率參數量測
系統申請。
91/12/6
因Load Pull系統將維修校驗,即日起本實驗室暫停高頻功率參數量測系統的量測申請,預計91/12/20維修校驗完畢後,再恢復量測申請。不便之處,敬請見諒。
91/10/15
為服務學界之大量測試需求,本實驗室決定將Load Pull系統送廠校驗日期暫緩至年底。即日起恢復高頻功率參數量測系統申請。
91/10/15
變溫量測的可變溫度範圍更改為0°C∼200°C。
91/10/11
即日起恢復
高頻雜訊參數量測
系統申請。
91/09/25
因Load Pull系統將送廠校驗,即日起本實驗室暫停高頻功率參數量測系統的量測申請,待校驗完畢,再恢復量測申請。不便之處,敬請見諒。
91/08/07
因Noise Mainframe將送修校驗,即日起本實驗室暫停高頻雜訊參數量測系統的量測申請,待校驗完畢,再恢復量測申請。不便之處,敬請見諒。
91/08/06
即日起
Flicker Noise Measurement System量測申請恢復正常
,開放對於MOS、Resistor、BJT及其他元件的量測進行申請。
91/07/16
因為Flicker Noise Measurement System儀器送修,目前能量測的元件只有MOS和Resistor,暫時停止對於BJT及其他元件的量測申請。
91/05/30
為協助國科會了解貴重儀器使用狀況,持續支持本實驗室進行高頻測試設備之升級與擴充,以增進相關測試服務之技術能力,敬請各申請者,將本實驗室之測試資料用於繳交的技術報告及發表的論文時,能於誌謝中註明本實驗室為測試支援單位。您的支持將是本實驗室最大的鼓勵。
91/03/08
若線上申請的案件被刪除,可參考
被刪除的登錄
中刪除的原因。
91/02/26
即日起
《高頻雜訊參數量測系統》
的申請量測頻段一律改為
1 ~ 18 GHz
,原先 0.3 ~ 6 GHz 頻段停止使用。
90/11/23
對本實驗室有任何疑問,歡迎到
Guestbook
提出。
90/07/01
本實驗室之高頻量測
線上登錄量測申請
已開放使用。
H
igh
F
requency
T
echnology
C
enter
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